荧光镀层测厚仪
 
   型        号：CMI900
   厂        商：牛津
   原  产  地：美
产品介绍：  
  • 涂镀层厚度测量和/或成分分析，元素范围 Ti - U
  • 可同时进行多达15层元素成分分析
  • 测量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987
  • 标准50瓦微焦X射线管  计数率增加，精度提高 可升级75瓦光管
  • 多准直器  数率和光斑尺寸之间的最佳平衡
  • 镭射聚焦  改善系统再现性（消除人为干扰）
  • 标准FP软件包  综合应用模式  简单校准
  • 开槽式设计样品台，自动寻找适合所设定焦距的Z轴坐标
  • 提供中文等7种语言界面
技术参数：  
  • X射线激发 50 瓦微聚焦钨靶 X 射线管
  • 探测器  氙气填充的正比计数器
  • 数字脉冲处理  4096 多道数据分析功能  自动信号处理，包括死时间修正
  • 计算机  奔腾 D，3.0 GHz，160 Gb 硬盘，512Mb 内存，MicrosoftTM XP 系统 **同等配置或更好
  • 电源  85~130 或 215~265 伏， 频率范围：47Hz - 63Hz
  • 工作环境  50°F (10°C) - 104°F (40°C) ，相对湿度达98%，非凝固状态
  • 工作台行程（XYZ 轴可调节）  6" x 7" x 1.9" (15.2cm x 17.8cm x 4.8cm)
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